间接CCD平板探测器的工作原理
间接平板探测器的另一种替代方法是利用数码相机中使用的技术，即CCD（电荷耦合器件）或CMOS（互补金属氧化物半导体）。CCD设计精良，可用于测量可见光，因为它们被用作许多数码相机的传感器。CCD还具有可以快速读取的优点。然而，遗憾的是CCD的尺寸与平板探测器的尺寸不匹配。
要将来自闪烁体的可见光连接到CCD或CMOS检测器，光纤耦合可用作光漏斗，将光从较大尺寸的闪烁体区域向下传输到较小尺寸的CCD。与TFT平板相比，并非所有可见光都集中到CCD上，导致效率略有下降。也可以使用透镜或电子光耦合器代替光纤来缩小信号。
CCD和CMOS技术的主要优势在于读取速度，因为CCD中的电子器件使检测器的读取速度比传统的TFT阵列快。这对于帧速率（即每秒拍摄多少张图像）比传统射线照相要求更高的介入和透视成像特别有益。
您如果对X线设备有疑问的话，我们乐意为您解答，欢迎来电，热线电话15628738102！
要将来自闪烁体的可见光连接到CCD或CMOS检测器，光纤耦合可用作光漏斗，将光从较大尺寸的闪烁体区域向下传输到较小尺寸的CCD。与TFT平板相比，并非所有可见光都集中到CCD上，导致效率略有下降。也可以使用透镜或电子光耦合器代替光纤来缩小信号。
CCD和CMOS技术的主要优势在于读取速度，因为CCD中的电子器件使检测器的读取速度比传统的TFT阵列快。这对于帧速率（即每秒拍摄多少张图像）比传统射线照相要求更高的介入和透视成像特别有益。
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