X射线直接平板探测器的工作原理

 时间:2022-05-26 15:06    作者: admin

       直接平板探测器使用完全不同的物理交互机制将X射线转换为可测量的信号。在直接平板探测器中，X射线直接转换为电子和空穴对，跳过了间接探测器所需的可见光步骤。
       直接平板探测器基于非晶硒(aSe)平板，这是X射线相互作用并产生电子和空穴对的材料。
       迄今为止，CCD传感器已在该领域占据主导地位，因为它们无处不在，但我们将CMOS包括在内，如果CCD生产放缓，这些传感器可能会在不久的将来获得更多关注。但从您作为放射技术专家的角度来看，CCD和CMOS可以被视为相似的技术，并将与光纤一起用于间接平板系统中，以汇集可见光。
       在检测器上施加电压，使电子流向一侧，空穴流向另一侧的速度更慢。然后可以测量被直接拉到正极侧的电子。这种电子流也称为电流。
       然后将电子收集在TFT阵列的有源区域内，并将收集到的电荷存储在每个检测器元件的电容器内。TFT包含用于放大模拟电信号并将其转换为数字信号的电子设备。TFT在每个检测器元件上都有单独的开关或门，因此可以分别读出它们。

       直接平板探测器的主要优点是电子不会像可见光子那样扩散。这导致直接平板系统的分辨率更高，即使检测器元件的尺寸相同。
       例如，直接探测器中使用的aSe在阻止用于对较大患者的腹部成像的更高能量X射线方面效率不高。
       因此，直接平板探测器特别适用于需要非常高的空间分辨率并且X射线束相对较软（例如低能量X射线）的乳房X射线照相术。