平板探测器在使用过程中的注意事项
随着平板探测器技术的成熟,DR的应用越来越广泛。大多数大中型医院都配备了DR数字摄影系统,取代了已使用多年的屏片摄影系统。
目前,平板探测器一般可分为间接(碘化铯/非晶硅)平板探测器和直接(非晶硒)平板探测器。
平板探测器由于其组成的特殊结构而对环境温度有独特的要求。不同类型的平板探测器对温度的要求不同。要求平板探测器在正常条件下始终通电,并且计算机温度控制系统用于保持最佳工作温度。通常,非晶硒平板探测器允许的正常温度为10℃〜35℃。如果温度低于10℃,平板探测器的非晶硒可能会冻结并结晶,从而导致曝光区域出现坏点,影响图像质量,甚至损坏平板探测器。如果温度过高,则会错误地读取信息,从而造成伪影并影响图像质量。随着时间的流逝,图像质量将损坏平板探测器。
通常,平板探测器应在使用2-3个月后进行校准。在特殊情况下,例如:①整个系统(包括平板探测器)突然断电; ②环境温度超出规定范围,导致平板检测器无法正常工作或像素坏点; ③平板检测器本身会引起图像伪影等。必须随时校准平板检测器。
目前,平板探测器一般可分为间接(碘化铯/非晶硅)平板探测器和直接(非晶硒)平板探测器。
平板探测器由于其组成的特殊结构而对环境温度有独特的要求。不同类型的平板探测器对温度的要求不同。要求平板探测器在正常条件下始终通电,并且计算机温度控制系统用于保持最佳工作温度。通常,非晶硒平板探测器允许的正常温度为10℃〜35℃。如果温度低于10℃,平板探测器的非晶硒可能会冻结并结晶,从而导致曝光区域出现坏点,影响图像质量,甚至损坏平板探测器。如果温度过高,则会错误地读取信息,从而造成伪影并影响图像质量。随着时间的流逝,图像质量将损坏平板探测器。
通常,平板探测器应在使用2-3个月后进行校准。在特殊情况下,例如:①整个系统(包括平板探测器)突然断电; ②环境温度超出规定范围,导致平板检测器无法正常工作或像素坏点; ③平板检测器本身会引起图像伪影等。必须随时校准平板检测器。