今天来给大家补充一些关于平板探测器的相关知识，在之前的文章中提到过平板探测器是一种精密和贵重的设备，对成像质量起着决定性的作用，熟悉探测器的性能指标有助于提高成像质量和减少X线辐射剂量。

      数字化X线摄影（Digital Radiography，简称DR），是上世纪90年代发展起来的X线摄影新技术，以其更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等显著优点，成为数字X线摄影技术的主导方向，并得到世界各国的临床机构和影像学专家认可。

      DR的技术核心是平板探测器，平板探测器是一种精密和贵重的设备，对成像质量起着决定性的作用，熟悉探测器的性能指标有助于我们提高成像质量和减少X线辐射剂量。

      平板探测器由外壳（保护层）、荧光层、电路板、散热器构成，其中荧光层分为CSI和GDS(GDOS0)。CSI的荧光层显示的图像更为清晰，GDS的荧光屏灵敏度更高。

     按半导体材料分为非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器，非晶硒平板探测器灵敏度更高，通常用于动态板。

     按图像软件分类，可以有医用软件、兽用软件和工业用软件。

     在平板探测器的使用方面要注意，平板的工作环境最适宜温度是5°到35°，如果是在热带地区使用则要做好冷控工作。同时也要注意刻蚀效应，平板探测器的理论寿命是3年，长时间使用的平板探测器会因为刻蚀效应产生无法消除的伪影， 从而影响图像的质量。以上就是今天所补充的平板探测器的信息啦。

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