DR平板探测器对温度要求
非晶硒平板探测器允许的正常温度范围为 + 10 ℃～ + 35 ℃,用户在机房中一般都配备恒温设备 ,在日常的使用中平板内部的温度由计算机监控 , 通电状态下的平板探测器由于自身的产热维持了一定的温度 , 此时对环境的低温不太敏感。高温时提高了冷却风扇的转速 , 加快散热使温度下降 , 导致我们往往会忽视机房的环境温度。特别是在寒冷的冬天下班后或节假日中有时会关掉恒温设备 , 导致机房的温度不断下降。在南方最冷的季节里 , 假如没有恒温设备的情况下 , 机房的室内温度大多在 + 10 ℃以下 , 朝北机房温度更低 , 甚至有可能低至+ 5 ℃左右 ,这就造成关机后的平板探测器环境温度的下降 ,大大超出了平板的温度下限。由于非晶硒平板对低温较为敏感 ,低于 + 10 ℃时很可能使非晶硒冻坏结晶 , 造成成像区域的坏点 , 坏点大多成圆形状 , 多次超温加快了损坏的速度 使坏点越来越多 , 而此时开机后计算机对探测器的坏区无检测过程 , 还能照常通过自检 , 只有在曝光后读出数据显示图像时才能发现。温度越低结晶的面积就越大 ,坏区就增多 ,发生了这种情况平板就无法正常使用了,只能更换整个平板 ,或送到工厂在特殊洁净的环境中打开重新涂覆非晶硒层来修复。
